NF C86-433-1988 半导体器件.电子元件统一质量评审体系.薄膜电阻器电路(批准程序).分规范

作者:标准资料网 时间:2024-05-08 01:43:47  浏览:8062   来源:标准资料网

【英文标准名称】:SEMICONDUCTORDEVICES.HARMONIZEDSYSTEMOFQUALITYASSESSMENTFORELECTRONICCOMPONENTS.FILMRESISTORSNETWORKS(APPROVALPROCEDURES).SECTIONALSPECIFICATION.SPECIFICATIONCECC64200.
【原文标准名称】:半导体器件.电子元件统一质量评审体系.薄膜电阻器电路(批准程序).分规范
【标准号】:NFC86-433-1988
【标准状态】:作废
【国别】:法国
【发布日期】:1988-11
【实施或试行日期】:1988-10-05
【发布单位】:法国标准化协会(FR-AFNOR)
【起草单位】:
【标准类型】:()
【标准水平】:()
【中文主题词】:分类系统;尺寸测量;合格试验;固定电阻器;电学测量;质量保证;鉴定试验;机械试验;协议;一般条件;环境试验;热试验;电子设备及元件;分类;试验条件;定义;电子元部件
【英文主题词】:
【摘要】:
【中国标准分类号】:L04
【国际标准分类号】:31_200
【页数】:80P.;A4
【正文语种】:其他