NF C96-022-2-2002 半导体装置.机械和气候试验方法.第2部分:低气压

作者:标准资料网 时间:2024-05-13 17:03:00  浏览:9162   来源:标准资料网

【英文标准名称】:Semiconductordevices-Mechanicalandclimatictestmethods-Part2:lowairpressure.
【原文标准名称】:半导体装置.机械和气候试验方法.第2部分:低气压
【标准号】:NFC96-022-2-2002
【标准状态】:现行
【国别】:法国
【发布日期】:2002-12-01
【实施或试行日期】:2002-12-05
【发布单位】:法国标准化协会(AFNOR)
【起草单位】:
【标准类型】:()
【标准水平】:()
【中文主题词】:大气压;环境试验;半导体;元部件;气候;电子工程;潮气;外观检查(试验);集成电路;气候试验;温度变化;试验;尺寸;机械试验;电学测量;热学;易燃性;电气工程;环境;耐力;半导体器件;电子设备及元件;密封性;温度
【英文主题词】:
【摘要】:
【中国标准分类号】:L40
【国际标准分类号】:31_080_01
【页数】:9P;A4
【正文语种】:其他